TACHYON. Marca Internacional Nº 939216.

Titular: ASML Netherlands B.V..

Dirección: De Run 6501
NL-5504 DR Veldhoven

País: PAÍSES BAJOS

Titular anterior: Brion Technologies Incorporated,
Delaware corporation

Dirección: 4211 Burton Drive
SANTA CLARA, CA 95054

País: ESTADOS UNIDOS DE AMÉRICA

Nº de marca internacional: 939216

Fecha de solicitud: 27 de Agosto de 2007

Fecha de próxima renovación: 27 de Agosto de 2027

Duración del registro: 10 años

Texto de la imagen: TACHYON

Países: CHINA

Clase 09 en Inglés: Computer hardware and software for designing and manufacturing semiconductor wafers and masks; metrology and inspection tools for measuring, detecting and inspecting chemical compositions, temperature, light images, thickness, flatness, texture, line width and contamination of semiconductor wafers and masks during the manufacturing process.

Clase 42 en Inglés: Services of technical specialists in the area of metrology; technological services with reference to lithography.

Clase 09 en Español: Hardware y software para diseñar y fabricar obleas y máscaras de semiconductores, instrumentos de metrología e inspección para medir, detectar y examinar la composición química, la temperatura, las imágenes luminosas, el grosor, la planicidad, la textura, el ancho de trazado y la contaminación de obleas y máscaras de semiconductores durante el proceso de fabricación.

Clase 42 en Español: Servicios de especialistas técnicos en metrología; servicios tecnológicos en relación con la litografía.

Clase 09 en francés: Matériel et logiciels informatiques utilisés pour la conception et la fabrication de plaquettes et caches de semi-conducteurs; outils de métrologie et d'inspection pour des opérations de mesure, de détection et d'inspection de compositions chimiques, de la température, d'images lumineuses, d'épaisseurs, de la planéité, de textures, de largeurs de trait et de la contamination de plaquettes et caches de semiconducteurs au cours du processus de fabrication.

Clase 42 en francés: Services de techniciens spécialisés en métrologie; services technologiques portant sur le domaine de la lithographie.



Otras marcas registradas: FENNER PRECISION el 27/09/2007, BOB el 10/10/2006, n o el 27/08/2007, ParaScope el 29/05/2007, ERENA. el 22/08/2007, N el 03/10/2007, GRANA PADANO D.O.P., GRANA PADANO D.O.P. el 06/06/2007, GoldeniSO, GOLDENISO el 27/08/2007, CADILLAC CT6 el 12/10/2007, LINZI el 12/10/2007, RECTO el 12/10/2007, BARKER BLACK el 12/10/2007, VERTICOIL el 19/10/2007, PowerCube el 10/09/2007, VERTIK el 22/10/2007, INTELLIGENCE el 21/09/2007, F 6200 el 04/10/2007, F 8700 el 04/10/2007, F 40 el 04/10/2007, TBEA, TBEA. el 30/04/2007, NANOWAVE el 23/07/2007, NATEFLASH, NATEFLASH el 14/09/2007, Katherm el 24/10/2007, Skipper, SKIPPER el 13/08/2007, PASSIVE HOUSE INSTITUTE el 03/09/2007, medicus el 24/10/2007, NOTESCOPE el 05/10/2007, EDMOLIFT el 01/11/2007.